JTAG Boundary Scan Test Systems (IEEE 1149.1)

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		Scan Development and Test Tools
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XJTAG 製品について

電子回路の保守、製造、設計を行う組織であれば何処でも、XJTAGの使用により競合力を増すことができるでしょう。
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XJTAGは、電子回路のテストとプログラミングを可能にする幾つかのソフトウェアとXJLink(USB-JTAGコネクタ)で構成された革新的なテストスイートです。今までには無い、JTAGの可能性を解き放つツールです。

ARM社の成功事例  IEEE 1149.1  (PDF, 345k)
パンフレット  IEEE 1149.1  (PDF, 185k)
XJTAG 無償評価版
JTAG について
XJTAG Design For Testability (DFT) Guidelines 日本語版  IEEE 1149.1  (PDF, 640k)


XJAnalyser−グラフィカルなJTAG解析とデバッグ >

XJAnalyser - Graphical view of your IEEE 1149.1 chainXJAnalyserの“プラグ・アンド・プレイ”コンフィグレーションで、立ち上げと実行が迅速に行え、即座にJTAGチェインの確認とJTAGチェイン上のデバイスのピンやバスの値のセットとチェックが可能です。

XJAnalyserは回路設計のデバッグ時に使用できる強力なツールです。そして、SVFやSTAPL/JAM形式のファイルをプログラミングすることも出来ます。そのうえ...

オンラインチュートリアル  graphical view of JTAG chains
XJAnalyser データ資料 graphical view of JTAG chains  (PDF, 565k)
XJAnalyser 動画デモ(音声付 3分40秒 約8MB )

XJEase−接続テスト、デバイスのプログラミング、そして... >

XJEase test system - flexible, reusable scripts

XJTAGのバージョン2から、XJDeveloper グラフィカルユーザインターフェイスが追加されました。これにより、基板のテストは簡単に構築できるようになります。ネットリストからデバイス間の情報を抽出してくれるので、簡単なドラッグ−ドロップインターフェイスでJTAGチェインを設定し、JTAG未対応デバイスを登録するだけです。そのうえ...

XJEase は、XJTAG用の高級言語レベルのテスト記述言語です。基板の複雑なテストを作成するために、変数、ループ、実行制御といった通常のプログラムコンセプトを提供します。

高レベルのテスト記述言語により、テストの開発がより簡単で迅速に行えます。個々の回路ごとにどのようにテストが実装されるかの詳細をテストのプログラム記述といった方法で抽象化できる為です。そのうえ...

XJEaseはアドバンスド・コネクション・テスト機能を持っています。回路内のデバイスの相互接続と特性に対する理解から、XJTAGは他の多くのJTAGツールに比べて回路のより多くの領域をテストすることが可能です。また、回路内のデバイスの状態をモニターすることで、不具合発生場所に関する詳細な情報と不具合の正確な種類を得ることも可能です。そのうえ...

XJEase データ資料  graphical view of JTAG chains  (PDF, 375k)
XJDeveloper 動画デモ(音声付 3分 約12MB )

XJRunner−XJEaseで開発されたテストを実行 >

XJRunner - run-time environment for IEEE 1149.1 testsXJEaseのテストを実行するための環境。基板製造業者や現地でのフィールドテスト向けに特化した製品で、その為、テスト結果のログ機能、シリアル番号の生成機能やユーザーの管理機能が追加されています。そのうえ...

XJRunner データ資料  graphical view of JTAG chains  (PDF, 315k)
XJRunner 動画デモ(音声付 3分 約12MB)


上記の全ての機能は、XJLink(USB-JTAGコネクタ)とXJDemoボード(XJTAGの学習の為のデモプログラム用の基板)と一緒に提供されます。

XJLink データ資料  graphical view of JTAG chains  (PDF, 190k)


XJIOボード >

XJIO expansion board - improved test coverageXJIOボードを使って外部接続用コネクタの信号を確認することができる為、テスト対象ユニットのテストカバレージを向上させることが出来ます。

XJIOボード上の様々なデジタル・アナログIOを使用して、障害分離を改善し、電源電圧の確認、カスタム冶具の作成コストの削減が可能です。また、JTAG未対応デバイスのみで構成された基板のテストに使用することも可能です。 そのうえ...

XJIO データ資料  graphical view of JTAG chains  (PDF, 700k)

XJAPI−低レベルのJTAGアクセス >

ハードウェア(XJLink)に対して容易に利用できるDLL-API。あらゆるシステム要求或いはあらゆる入手可能な標準APIに対応可能なAPIを作成可能です。そして...

XJTAGの特注バージョンの提供と独自の要求に対応したXJEaseのテストプログラムを作成可能です。


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英語版のメインサイトには、より多くの情報も有りますが詳しくは国内代理店(富士設備 www.fuji-setsu.co.jp ) までお問合せやご依頼を頂けると幸いです。